ZEISS ELYRA SP1

一般的光學顯微鏡因受限光的繞射現象，理想解析度約200nm(與物鏡和波長有關)。而突破光學解析極限的技術，稱之為”超高解析度影像顯微技術”。而本所目前有兩種技術: SIM (Structured Illumination Microscopy)& PAL-M (Photoactivated Localization Microscopy) 前者是利用在光路上設置光柵格線，藉由旋轉與移動光柵的位置，產生原本傳統光學技術所捕捉不到的細微訊號(多相位訊號)，稱之為Moire fringes，再利用數學公式的反運算，將影像XYZ三軸解析度提升到兩倍。後者，利用特殊螢光分子，選擇性開啟與關閉螢光訊號，偵測微弱的螢光訊號位置，再利用數學統計分布，呈現單一分子的解析能力。SIM的樣品不拘，深度建議在約30μm以下，太厚的樣品可能會受到非焦平面的訊號干擾。PAL-M的技術可支援GSD、dSTORM等不同螢光分子的實驗，建議至少一到兩萬的訊號累計，獲得足夠量的影像資訊。

Objectives:
10X /0.45 Plan Apochromat / 63X/1.40 Plan Apochromat / 100X/ 1.40 Plan Aopchromat / 100X/ 1.57 Plan Aopchromat

Lasers:
405nm, 488nm, 561nm, 642nm

CCD:
Andor EM-CCD camera iXon DU897 Andor EM-CCD camera iXon DU885